SZJS6000變頻抗干擾介質損耗測試儀是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場或實驗室測試各種高壓電力設備介損正切值及電容量的高精度測試儀器。儀器為一體化結構，內(nèi)置介損測試電橋，可變頻調壓電源，升壓變壓器和SF₆ 高穩(wěn)定度標準電容器。測試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生，經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測試。頻率可變?yōu)?5Hz或55Hz，55Hz或65Hz，采用數(shù)字陷波技術，避開了工頻電場對測試的干擾，從根本上解決了強電場干擾下準確測量的難題。同時適用于全部停電后用發(fā)電機供電檢測的場合。該儀器配溫控油杯（選配件）可測試絕緣油介質損耗。

SZJS6000變頻抗干擾介質損耗測試儀主要具有如下特點：

• 超大液晶中文顯示

SZJS6000變頻抗干擾介質損耗測試儀配備了大屏幕（105mm×65mm）中文菜單界面，屏顯分為左右兩部分，左邊為功能菜單區(qū)，右邊為相關狀態(tài)信息提示，每一步都非常清楚，操作人員不需要專業(yè)培訓就能使用。一次操作，微機自動完成全過程的測量，是目前非常理想的介損測量設備。

• 海量存儲數(shù)據(jù)

SZJS6000變頻抗干擾介質損耗測試儀內(nèi)部配備有日歷芯片和大容量存儲器，能將檢測結果按時間順序保存，隨時可以查看歷史記錄，并可以打印輸出；

• 科學先進的數(shù)據(jù)管理

SZJS6000變頻抗干擾介質損耗測試儀數(shù)據(jù)可以通過U盤導出，可在任意一臺PC機上通過我公司專用軟件，查看和管理數(shù)據(jù)并可生成工作報告。

• 多種測試模式

SZJS6000變頻抗干擾介質損耗測試儀能夠分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標準、外標準、正接法、反接法、自激法等多種方式測試；在外標準外高壓情況下可以做高電壓（大于10kV）介質損耗。

• CVT測試一步到位

SZJS6000變頻抗干擾介質損耗測試儀還可以測試全密封的CVT（電容式電壓互感器）C1、C2的介損和電容量，實現(xiàn)了C1、C2的同時測試。該儀器還可以測試CVT變比和電壓角差。

• 高速采樣信號

SZJS6000變頻抗干擾介質損耗測試儀內(nèi)部的逆變器和采樣電路全部由數(shù)字化控制，輸出電壓連續(xù)可調。

• 多重保護**可靠

SZJS6000變頻抗干擾介質損耗測試儀具備輸入電壓波動、輸出短路、過壓、過流、溫度等多重保護措施，保證了儀器**、可靠。儀器還具備接地檢測功能，確保不接地設備不允許升壓。

二   SZJS6000變頻抗干擾介質損耗測試儀工作原理

在交流電壓作用下，電介質要消耗部分電能，這部分電能將轉變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質的損耗。當電介質上施加交流電壓時，電介質中的電壓和電流間成在相角差ψ，ψ的余角δ稱為介質損耗角，δ的正切tgδ稱為介質損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質損耗的參數(shù)。儀器測量線路包括一標準回路（Cn）和一被試回路(Cx)，如圖2—1所示。標準回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標準電容器與測量線路組成，被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉換器組成。通過測量電路分別測得標準回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號處理器運用數(shù)字化實時采集方法，通過矢量運算得出試品的電容值和介質損耗正切值。

SZJS6000變頻抗干擾介質損耗測試儀內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保證在外電場干擾下準確測量。

 三  SZJS6000變頻抗干擾介質損耗測試儀主要技術參數(shù)

四  SZJS6000變頻抗干擾介質損耗測試儀參數(shù)對比

五   SZJS6000變頻抗干擾介質損耗測試儀面板說明

                                                                            圖 5—1
 

5.1、按鍵

安裝位置：如圖5—1—1。

功    能：“背光”鍵開啟或關閉液晶屏背光燈；

         “↑”和“↓”鍵移動光標或修改數(shù)據(jù)；

         “復位”鍵將儀器內(nèi)部主CPU復位；

         “取消”鍵返回上上等菜單；

         “確認”選定光標指定菜單。

5.2、液晶顯示屏（液晶屏應避免長時間陽光暴曬，避免重物擠壓和利器劃傷）

安裝位置：如圖5—1—2。

功    能：大屏幕（105mm×65mm）中文菜顯示，每一步操作清晰明了。

5.3、 ① da

    安裝位置：如圖5—1—③

    功    能：自激輸出，儀器內(nèi)部為自激輸出變壓器的一端（變壓器另一端通過dn接地），自激法測試CVT介損時連接到CVT的自激線圈（da）上，da,dn為CVT提供測量所需高壓電源。

② dn

    功    能：自激輸出端，儀器內(nèi)部為自激輸出變壓器的一端，da,dn為CVT提供測量

所需高壓電源。

注   意： 因低壓輸出電流大，應采用儀器專用連接線連接到CVT二次繞組并使其接觸良好，選擇正、反接法測量時，此輸出關閉。

5.4、接地接線柱

 安裝位置：如圖5—1—④。

 功    能：儀器保護接地。

注    意：儀器內(nèi)部自帶接地保護裝置，測試中應當保證可靠接入地網(wǎng)。否則儀器將自動產(chǎn)生保護不開始升壓測試。 

5.5、標準電容器輸入Cn插座

 安裝位置：如圖5—1—⑤

 功    能：外接標準測試信號。

 接線方法：外標準測試時電纜芯線接標準電容測試端，電纜屏蔽層接標準電容器屏

           蔽極。外標準測試時不管是正接法還是反接法測量，標準電容器接線方

           法不變。此方式用于外接高電壓等級標準電容器，實現(xiàn)高電壓介質損耗

           測量。

5.6、試品低壓輸入Cx插座

 安裝位置：如圖5—1—⑥。

 功    能：正接法時輸入被試品測試信號。

 接線方法：插座中心連接黑色信號線芯線；金屬外殼接黑色信號線屏蔽層；正接法時芯線接被試品低壓信號端，若被試品低壓信號端有屏蔽極（如低壓端的屏蔽環(huán)），則可將屏蔽層接于屏蔽極，無屏蔽極時屏蔽層懸空。

 注   意：· 在啟動測試的過程中嚴禁拔下插頭，以防被試品電流經(jīng)人體入地。

  · 用標準介損器或標準電容器檢測正接法精度時，應使用全屏蔽插頭連接

     介損器或標準電容器，否則暴露的芯線可能受到干擾引起誤差。

  · 測試過程中應保證插座中心測試芯線與被試品低壓端零電阻連接，否則可能引起測量結果的數(shù)據(jù)波動。

      · 強干擾下拆除接線時，應在保持電纜接地狀態(tài)下斷開連接，以防感應電

         擊。

5.7、打印機

 安裝位置：如圖5—1—⑦。

 功    能：顯示可打印數(shù)據(jù)時，將光標移動至“打印”項按確認鍵打印。

 注    意：打印機為全自動熱敏打印機，打印紙寬55mm。更換打印紙時請使用熱

          敏打印機專用打印紙，首先按下打印機下部凸起的按鈕，打印機蓋板將自動彈起，然后按順序將打印紙放入打印紙倉內(nèi)并留少許部分在外面，*后合上打印機蓋板。

5.8、高壓指示燈

 安裝位置：如圖5—1—8

 功    能：儀器測量過程中配合儀器內(nèi)部喇叭發(fā)出一定頻率的閃燈和提示音。

5.9、U盤接口

 安裝位置：如圖5—1—⑨。

 功    能：把儀器內(nèi)部保存的測試數(shù)據(jù)導入并保存到U盤中。

注    意：數(shù)據(jù)傳輸過程當中嚴禁拔出U盤，只有當數(shù)據(jù)傳輸完畢后并且液晶屏上出現(xiàn)拔出U盤的提示后，方可拔出U盤，否則有可能燒毀U盤。 

5.10、總電源開關

 安裝位置：如圖5—1—⑩。

 功    能：打開此關，儀器上電進入工作狀態(tài)。關閉此開關，也同時關閉儀器內(nèi)部

           所有電源系統(tǒng)，緊急情況應立即關閉此開關并拔掉輸入電源線。

5.11、電源輸入插座

 安裝位置：如圖5—1—11。

 功    能：提供儀器工作電源。

 接線方法：使用標準插座與市電或發(fā)電機相連接。

 注    意：電源插座內(nèi)部帶有保險管保護裝置，不正常情況下可燒毀保險管保使儀器斷電，保護儀器內(nèi)部。 

5.12、高壓輸出HV插座  

 安裝位置：如圖5—2—?，外設保護門。

 功     能： 儀器變頻高壓輸出；檢測反接線試品電流；內(nèi)部標準電容器的高壓端。

 接線方法：插座中心連接紅色高壓線芯線；金屬外殼連接紅色高壓線屏           蔽層；正接法時芯線和屏蔽層都可以作加壓線對被試品高壓端加壓；反接法時只能用芯線對被試品高壓端加壓，若試品高壓端有屏蔽極（如高壓端的屏蔽環(huán)），則可將屏蔽層接于屏蔽極，無屏蔽極時屏蔽層懸空。

 注    意：· 在啟動測試的過程中此插座帶有高壓有觸電危險，優(yōu)良禁止觸碰高壓

             插座及與之相連的相關設備。

          · 用標準介損器或標準電容器檢測正接法精度時，應使用全屏蔽插頭連

             接介損器或標準電容器，否則暴露的芯線可能受到干擾引起誤差。

• 測試過程中應保證插座中心紅色高壓線芯線與被試品高壓端零電阻連接，否則可能引起測量結果的數(shù)據(jù)波動。

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